JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡
JEM-ARM200F是一臺具有亞埃分辨率的掃描透射電子顯微鏡,配備有電子束球差校正系統(tǒng)、X-射線能譜儀和電子能量損失譜儀。可同時進行原子分辨率的成像和化學份分析。
掃描透射模式分辨率:暗場像 0.08 nm 明場像 0.14 nm
透射模式分辨率:點分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm
放大倍率:掃描透射模式 100 to 150,000,000X 透射模式 50 to 2,000,000X
光斑尺寸:最小直徑0.10nm
