技術(shù)參數(shù):
1.XY雙向程序控制掃描平臺掃描范圍:300mm;2m (XY)(可選);
2.掃描速度:最大20mm/s(x,y);
3. XY雙向掃描平臺掃描最小步進/分辨率:1 μm;
4.平均曲率分辨率:2×10-5 1/m (1-sigma);
5.中心曲率測量范圍:Minimum Concave: 2.0m,Minimum Convex: -2.0m;Maximum Concave: 50km Maximum Convex: - 50km;
6.應(yīng)力測量精度:1% 或0.32MPa;
7.中心應(yīng)力測量范圍:Minimum Concave: 0.32MPa Minimum Convex: 0.32MPa;Maximum Concave: 7.80 GPa Maximum Convex: 7.80 GPa
8.應(yīng)力測量分辨:0.32MPa;
9.平均應(yīng)力重復(fù)性:0.02MPa;
10.最大Bow測量高度:0.67mm;
11.Bow測量分辨率:30nm;
12.樣品holder兼容:50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm, and 300mm直徑樣品;
13.程序化控制掃描模式:選定區(qū)域、多點線性掃描、全面積掃描;
14.成像功能:樣品表面2D曲率成像,定量薄膜應(yīng)力成像分析;
15.測量功能:曲率、曲率半徑、應(yīng)力強度、應(yīng)力、Bow和翹曲等;
16.二維5*5激光陣列測量技術(shù):不但可以對樣品表面進行二維曲率成像分析;而且這種設(shè)計始終保證所有陣列的激光光點始終在同一頻率運動或掃描,從而有效的避免了外界振動對測試結(jié)果的影響;同時大大提高了測試的分辨率;